最新の耐放射線CPUと耐放射線メモリは、宇宙空間の過酷な放射線環境から受ける影響が最小限となるように設計されています。これらの重要な部品に宇宙線、陽子、中性子などが当たると、シングルイベント効果（SEE）が発生するため、放射線の軽減が必要となります。特定の放射線環境における放射線の影響を理解してその特性を明らかにすることは、耐放射線部品を使用した宇宙システムの設計・検証手順の要点を定め、効果的な放射線の影響を軽減する技術を提案する上で不可欠です。コストを最小限に抑え、システムの可用性とスループット帯域幅を最大限に高め、発生するエラーを最小限に抑えるには、放射線環境と電子部品のばらつきを考慮した正しい放射線の影響を軽減する技術を利用することが重要です。設計段階では、システム性能を予測するためにモデリングとエラーレートの算出方法を理解する必要があります。

Teledyne e2vは、過酷な放射線環境下での動作に耐えうる性能と機能を備えた最先端の耐放射線デジタルコンポーネントを提供して、宇宙空間に適した放射線の影響を軽減する技術を特定し、システムレベルでの放射線の影響を最小限に抑えるための基礎知識を提供します。本稿ではまず、半導体で観察できる一般的な放射線効果を紹介します。次に、Teledyne e2vの宇宙用の高速プロセッサ製品で観測された典型的な放射線の影響を紹介します。最後に、このような影響に対処するために適用可能な放射線の影響を軽減する技術を提案し、考察します。

こちらをクリックすると、当社のホワイトペーパーをダウンロードして詳細をご確認いただけます。